普赛斯S系列四象限直流电源VI曲线源表标准的SCPI指令集，Y秀的性价比，良好的售后服务与技术支持，集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体，支持四...

武汉普赛斯仪表PMDT系列IGBT全动态参数测试设备是一款专用于MOSFET、IGBT、SiC MOS等器件的动态参数测试，能够安全便捷的测试功率器件的开关延时...

武汉普赛斯仪表PMST系列半导体静态参数测试仪测试主机内部采用的电压、电流测量单元，均采用多量程设计，测试精度为0.1%。其中，栅极-发射极，蕞大支持30V@1...

光耦电性能分析测试系统测试主机内部采用的电压、电流测量单元，均采用多量程设计，测试精度为0.1%。其中，栅极-发射极，蕞大支持30V@10A脉冲电流输出与测试，...

1000V高压脉冲源程控源测量单元具有输出及测量电压高（3500V）、能输出及测量微弱电流信号（1nA）的特点。设备工作在第一象限，输出及测量电压0~3500V...

S系列精密电流源国产化数字源表自主品牌四象限工作，源和负载；电压及电流范围广，最小电流分辨率10pA，电流±100pA～±3A，电压...

武汉普赛斯仪表功率半导体测试设备igbt测试仪SiC|IGBT测试可精准测量不同封装类型功率器件（如MOSFET、 BJT、IGBT，以及SiC、GaN第三代半...

功率半导体静态参数测试设备测试主机内部采用的电压、电流测量单元，均采用多量程设计，测试精度为0.1%。其中，栅极-发射极，蕞大支持30V@10A脉冲电流输出与测...

大功率半导体器件参数测试系统是一款能够提供IV、 CV、跨导等丰富功能的综合测试系统，具有高精度、宽测量范围、模块化设计、轻松升级扩展等优势，旨在全面满足从基础...

普赛斯仪表两通道数字源表可独立或组合工作，具有多种测试模式，可显著提高测试和表征效率，广泛应用于各种电气特性测试中，特别适合现代半导体、纳米器件与材料、有机半导...

半导体功率模块测试系统是普赛斯仪表经过精心设计与打造的高精密电压/电流测试分析系统。该系统不仅具备IV、CV、跨导等多元化的测试功能，还拥有高精度、宽测量范围、...

微电流源VI曲线扫描数字源表标准的SCPI指令集，Y秀的性价比，良好的售后服务与技术支持，集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体，支持四象限工作

功率半导体静态参数测试机集多种测量和分析功能一体,可以精准测量功率半导体器件的静态参数,具有高电压和大电流特性、uQ级精确测量、纳安级电流测量能力等特点。支持高...

双通道源表直流4A脉冲30A具有多种测试模式，可显著提高测试和表征效率，广泛应用于各种电气特性测试中，特别适合现代半导体、纳米器件与材料、有机半导体、印刷电子技...

武汉普赛斯仪表宽禁带半导体器件静态参数测试系统是一款能够提供IV、 CV、跨导等丰富功能的综合测试系统，具有高精度、宽测量范围、模块化设计、轻松升级扩展等优势，...

DPXXB系列2通道数字源表高精度双通道源表是在单通道脉冲台式源表基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表，汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，单通道...

DPXXB系列双通道源表数字源表是在单通道脉冲台式源表基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表，汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，单通道最大输出电压...

半导体元器件iv曲线测试仪集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体，支持四象限工作、微弱电流10pA输出测量、8000V高压下纳安级测量、1000A...

微电流电压IV曲线扫描数字源表-国产推荐S系列标准的SCPI指令集，Y秀的性价比，良好的售后服务与技术支持，集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体...

武汉普赛斯高功率半导体检测设备-功率器件分析仪模块化设计,覆盖IV,CV,跨导等丰富功能,全量程0.1%测试精度,可定制夹具,支持纳安级漏电流μΩ级导通电阻测量...