椭偏仪

摘要ME-L 穆勒矩阵椭偏仪概述ME-L 是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪，凝聚了颐光科研团队在椭偏技术多年的投入，其采用行业前沿的创新技术，包括消色差补偿器、双旋转补偿器同步控制、穆勒矩阵数据分析等。可应用于各种各向同性/异性薄膜材料膜厚、光学纳米光栅常数以及一...

摘要 SE-VM光谱椭偏仪E-VM是一款高精度快速测量光谱椭偏仪。可实现科研/企业级高精度快速光谱椭偏测量，支持多角度，微光斑，可视化调平系统等高兼容性灵活配置，多功能模块定制化设计。

摘要 SE-VE光谱椭偏仪SE-VE是一款高性价比快速测量光谱椭偏仪。高性价比光学椭偏测量解决方案紧凑集成设计，使用简便，一键快速测量向导交互式人机界面，便捷的软件操作体验丰富的材料数据库和算法模型库。

摘要 SE-L光谱椭偏仪SE-L是一款科研级全自动高精度快速光谱型椭偏仪，可通过椭偏参数、透射/反射率等参数的测量，实现光学薄膜和纳米结构的表征分析。适用于各向同性薄膜材料快速测量表征。

摘要SE-Mapping光谱椭偏仪概述SE-Mapping 光谱椭偏仪是一款可定制化Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，采用行业前沿创新技术，配置全自动Mapping测量模块，通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现薄膜全基片膜厚以及光学参数自定义绘制化测量表...

摘要 PMS 椭偏在线监测装备针对LCD、OLED等新型平板显示量产中所涉及的PI配向膜、光刻胶薄膜、ITO薄膜、有机发光薄膜、有机/无机封装薄膜等质量控制需要，专门设计的在线薄膜测量系统。可适用于空气、N2、真空等环境条件，自动实现玻璃基板上各种膜系结构厚度分布。

摘要 SE-PV光伏椭偏仪价格产品概述SE-PV 是一款光伏行业领域型光谱椭偏仪，针对光伏行业绒面单晶硅或多晶硅太阳能电池表面减反膜测量定制开发，快速实现薄膜物性表征分析。

摘要 SE-Glass 光谱椭偏仪价格产品概述SE-Glass 是一款针对玻璃盖板行业定制的型光谱椭偏仪，针对玻璃盖板光学镀膜行业通过集成微光斑+可视化调平系统仪消除透明基底背反测量定制开发，快速实现玻璃盖板上多层薄膜物性表征分析。

摘要 全自动椭偏检测机台价格产品概述颐光科技全自动椭偏检测机台作为一种小型椭偏集成机台，通过整体高度模块化，电、气路集成技术，实现不同椭偏测量模块在线/离线式整体椭偏测量解决方案。

摘要 原位监测椭偏仪IMS型是在科研级光谱椭偏仪的基础上，根据有机/无机镀膜工艺研究的需要研发的原位薄膜在线监测仪器，可用于金属薄膜、无机薄膜、有机薄膜的蒸镀、溅射等光学薄膜工艺过程的实时原位在线监测。

摘要 宽光谱成像光谱椭偏仪IE-L系列是结合单/双旋转补偿器椭偏调制技术和光学成像技术，实现对薄膜和纳米结构的实时可视化分析测量。可同时高横向分辨率的得到视场内样品上所有微区的椭偏参数。

摘要 自动光谱椭偏仪SE-L型是一款科研级全自动高精度光谱椭偏仪，集众多颐光科技技术于一体，采用行业前沿创新技术，配置全自动测量模块。通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析。

摘要 自动光谱椭偏仪SE-L型是一款科研级全自动高精度光谱椭偏仪，集众多颐光科技技术于一体，采用行业前沿创新技术，配置全自动测量模块。通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析。

摘要光谱椭偏仪SE-VE型是一款高性价比快速测量光谱椭偏仪，可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析，适用于薄膜材料的快速测量表征。高性价比光学椭偏测量解决方案紧凑集成设计，使用简便，一键快速测量向导交互式人机界面，便捷的软件操...

摘要光谱椭偏仪SE-VM型是一款科研级高精度快速测量光谱椭偏仪，可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析，适用于薄膜材料的快速测量表征。高性价比光学椭偏测量解决方案紧凑集成设计，使用简便，一键快速测量向导交互式人机界面，便捷的软...

摘要 光谱椭偏仪Mapping系列是全自动高精度Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，集众多颐光科技技术于一体，采用行业前沿创新技术，配置全自动Mapping测量模块。通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现薄膜全基片膜厚以及光学参数自定义绘制化测量表征分析。

摘要全自动Mapping光谱椭偏仪SE-100A是全自动高精度Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，集众多颐光科技技术于一体，采用行业前沿创新技术，配置全自动Mapping测量模块。通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现薄膜全基片膜厚以及光学参数自定义绘制化测量...

摘要 宽光谱穆勒矩阵椭偏仪ME-L型是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪，可通过反射/透射率、椭偏参数、穆勒矩阵和退偏指数等参数测量，实现各种光学薄膜和纳米结构的表征分析。

摘要 Radiation 全光谱反射仪