台阶仪

摘要 NS系列中图台阶仪品牌采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。

摘要NS系列国产台阶仪测粗糙度应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料...

摘要中图仪器国产台阶仪测试薄膜厚度配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没...

摘要国产台阶仪品牌厂家中图仪器的NS系列台阶仪，是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求，样品适应面广，数据复现性高、测量稳定、便捷、高效，是微观表面测...

摘要 中图仪器NS系列台阶仪接触式轮廓测量仪主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求，样品适应面广，数据复现性高、测量稳定、便捷、高效，是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。

摘要NS系列表面台阶轮廓仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制...

摘要中图仪器NS系列台阶仪探针轮廓仪是一种接触式表面形貌测量仪器，可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求，样品适应面广，数据复现性高、测量稳定、便捷、高效，是微观表面...

摘要NS系列膜厚台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。仪器采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪...

摘要 中图仪器NS系列接触式台阶仪主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。它对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求，样品适应面广，数据复现性高、测量稳定、便捷、高效，是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。

摘要 中图仪器NS台阶仪探针式表面轮廓仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪，其采用LVDC电容传感器，具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点。它可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。

摘要 NS200国产台阶形貌仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪，其采用LVDC电容传感器，具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电薄膜厚度的测量上具有很强的优势。

摘要 NS200国产台阶膜厚仪主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。其采用LVDC电容传感器，具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电薄膜厚度的测量上具有很强的优势。

摘要 NS系列台阶轮廓仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。

摘要 NS系列微观表面台阶显微检测仪是利用光学干涉原理，通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度，500万像素高分辨率彩色摄像机，即时进行高精度定位测量。可以将探针的形貌图像传输到控制电脑上，使得测量更加直观。

摘要 NS200台阶厚度测量仪能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料，是一款超精密接触式微观轮廓测量仪。

摘要 针对测量ITO导电薄膜的应用场景，NS系列台阶厚度仪结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势。

摘要NS200探针式台阶仪是一种接触式表面形貌测量仪器，可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求，样品适应面广，数据复现性高、测量稳定、便捷、高效，是微观表面测量中使用...

摘要 NS200国产台阶仪能够测量几个纳米到330μm的台阶高度。这使其可以准确测量在蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；可以测量表面的2D形状或翘曲。也能够测量在生产中包含多个工艺层的半导体或化合物半导体器件所产生的应力。

摘要简单介绍 台阶钻头同心度测试仪/定心钻头同心度测试仪/钻头同心度测试仪配有专用夹具,夹持倒头,可以旋转360度测量刀具；可选配备了业界功能*强大的美国M1-M3集成化多功能自动寻边测量软件，高清影像...

摘要简单介绍 毛坯阶梯轴同心度跳动仪/台阶轴同心度跳动仪/同心度跳动仪偏摆仪，刀具同轴度测量仪，同轴度检测仪及同轴度测试仪适用于测量的行业有数控车加工小轴同心度仪，自动车加工同轴度测量仪，打印机轴加工同...

摘要简单介绍 大型阶梯轴刀刃可程序控制检测仪/锻圆锻造台阶轴刀刃可程序控制检测仪/滚花轴刀刃可程序控制检测仪本机器铣刀激光外径跳动测量仪，配公司高精度，多功能全电脑控制测量机，以非接触式方式测量成型铣刀...

摘要简单介绍 毛坯阶梯轴刀刃可程序控制检测仪/台阶轴刀刃可程序控制检测仪/变速箱步轮轴刀刃可程序控制检测仪本机器铣刀激光外径跳动测量仪，配公司高精度，多功能全电脑控制测量机，以非接触式方式测量成型铣刀/...

摘要简单介绍 台阶轴自动跳动测定仪变速箱步轮轴自动跳动测定仪自主研发生产同心度仪，偏摆仪，刀具同轴度测量仪，同轴度检测仪 及同轴度测试仪适用于测量的行业有数控车加工小轴同心度仪，自动 车加工同轴度测量仪...

摘要简单介绍 锻圆锻造台阶轴同心度检测仪/滚花轴同心度检测仪同心度测定仪产品主要采用双表测量,可同时测量圆跳动和端面跳动,是轴类工件或棒类,盘形工件外圆真圆度,平面度,两圆的偏心度,平面垂直度等参数的测...

摘要简单介绍 台阶钻头同心度测试仪/定心钻头同心度测试仪/钻头同心度测试仪同心度仪测量直径: 3-35mm同心度仪适用长度: 102mm同心度仪精度: 0.002mm台阶钻头同心度测试仪/定心钻头同心度...

摘要 65系列高精度同心度测量仪特点：适用长轴长工件重量大产品同心度测量仪设计：单边高度可调适用两端基准直径不一样产品同心度测量中心高90mm鞍座高度可調15mm

摘要表面微观特征是材料、化学、精密制造等领域的主要研究内容，准确地评价表面微观形貌、表面特征等，对于相关材料的评定、性能的分析和加工工艺的改善都具有重要意义。在半导体、光伏、LED、MEMS器件、材料等领域，表面台阶高度、膜厚的准确测量具有十分重要的价值，尤其是台阶高度是...

摘要 台阶仪

摘要 产品描述：Dektak Pro是布鲁克新发布的一款的探针式轮廓仪/台阶仪，基于第十一代Dektak®系统，具有4 Å重复性的优异表现，并提供200毫米平台选项

摘要 P-7建立在市场的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的测量性能，并作为台式探针轮廓仪平台提供了的性价比。 P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达150mm而无需图像拼接。

摘要P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪，将行业的P-17台式系统的测量性能和经过生产验证的HRP®-260的机械传送臂相结合。 这样的组合为机械传送臂系统提供了极低的拥有成本，适用于半导体，化合物半导体和相关行业。 P-170可以对台...

摘要P-17是第八代台式探针轮廓仪，是40多年的表面量测经验的结晶。该系统业界，支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达200mm而无需图像拼接。该系统结合了UltraLite®传感器、恒力控制和超平扫描平台，因而具备出色的测量稳定性。 ...

摘要Alpha-Step D-600探针式轮廓仪支持台阶高度和粗糙度的2D及3D测量，以及翘曲度和应力的2D测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量，大垂直范围和低触力测量功能。探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量，与材料特性无关。 可调节的触力以及探针的选择...

摘要Alpha-Step D-500探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量，大垂直范围和低触力测量功能。探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量，与材料特性无关。 可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构...

摘要 KLA D-300探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量，大垂直范围和低触力测量功能。

摘要 产品介绍 Alpha-Step D-500 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量，大垂直范围和低触力测量功能。

摘要 产品介绍 KLA的探针式台阶仪Alpha-Step D-600，可测量纳米级至1200um台阶高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波纹度、应力。且其具有5.0A (1σ)或0.1%台阶高度重复性以及亚埃级的分辨率。

摘要 产品介绍 KLA是半导体在线检测设备市场较大的供应商，在半导体、数据存储、 MEMS 、太阳能、光电子 以及其他领域中有着不俗的。 P-7是KLA公司的第八代探针式台阶仪系统，历经技术积累和不 断迭代更新，集合众多技术优势。

摘要产品介绍 P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪，将行业的P-17台式系统的测量性能和经过生产验证的HRP®-260的机械传送臂相结合。 这样的组合为机械传送臂系统提供了低成本，适用于半导体，化合物半导体和相关行业。 P-170可以对...

摘要 产品介绍 P-17是第八代台式探针轮廓仪。该系统业界，支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达200mm而无需图像拼接。

摘要 产品介绍 Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。光学杠杆传感 器技术提供高分辨率测量，大垂直范围和低触力测量功能。

摘要 日本KOSAKA台阶仪ET200用于测量半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。

摘要 产品描述：DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能。

摘要 适用于二次元表面纳米等级段差台阶测定、粗糙度测定。

摘要布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供的重现性，重现性低于4Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak 技术创新的，更加巩固了其行业地位。通过整合其行业产品，DektakXT 实现了性能。操作简易，从研发到质量控制都...