经典三级视频在线观看 简介x射线衍射仪的工作原理
2021-01-21 标签:x射线衍射仪
X射线衍射仪 工作原理:
XRD即X射线衍射(X-ray diffraction)。每一种结晶物质,都有其特定的晶体结构。晶体结构可通过点阵类型、晶面间距等参数表征出来。使用X射线,在一定条件下照射被测样品,可产生相干的散射(衍射)信号,经分析后可获取晶体的结构参数,还可进而推断样品的物相组成、含量,以至晶粒尺寸、结晶度等其他多种结构相关信息。
实验室设备介绍及样品要求:
本实验室现有两台套X射线衍射仪(理学DMAX RAPID II、布鲁克D8 Advance),测试对象可以是微量粉末(>0.001g,>200目)、常量粉末(>0.2g,>320目)、固体碎屑微粒(粒径0.03至1mm,用透射法)、块状颗粒(粒径<1cm,有平整表面,用反射法)、粘土滴片(26*26mm光面载玻片)、岩石薄片(光学片、电镜片、注胶抛光颗粒等,用反射法)。
理学DMAX RAPID II系统:
光源:5.4kW(Cu、Mo可切换)转靶点光源;窗口束斑直径约1mm;可约束束斑直径至0.03mm、0.05mm、0.1mm、0.3mm、0.8mm
测角台(样品台):双转轴(Omega、Phi)单平移轴(Z)基台,配双平移轴(X、Y)手动或自动样品架基座,可换装毛细管用变温样品架(室温至400℃)
探测器:桶形固定式面探测器,衍射角(2θ)测量范围(-45°,165°),方位角(β)测量范围(2θ<45°时β360°全域可测。
设备用途:1、微量粉末测试;2、微粒测试;3、原位微区测试(块体、薄片);4、高温反应实时测试
布鲁克D8 Advance系统
光源:3kW(工作功率1.6kW)Cu靶线光源。
光路:电控自适应狭缝系统,可在扫描过程中自动调整入射线端、样品台和衍射线端多种狭缝开口(不包括索拉狭缝)。
测角台(样品台):样品台单转轴(垂直轴Phi),单平移轴(垂直轴Z);90位自动进样器,可换装真空高温台(室温至1600℃)。立式θ/θ测角台,扫描范围-110°~168°,步进马达、光学编码器双重定位。
探测器:型号LYNXEYE XE-T能量色散二维阵列探测器,动态范围≥108cps,线性≥4×107cps,背景≤0.1cps
X射线衍射仪 用途:1、常量粉末(0.2g~1g)测试;2、粘土滴片样测试;3、高温反应实时测试。
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