其它光谱仪

摘要 角分辨光谱系统角分辨光谱仪AR 采用智能化的自动旋转设计，分别调节入射和出射方向，实现对待测样品不同角度的光谱测量。目前，角分辨光谱测量模式有：上反射、下反射、透射、散射、辐射、自由模式和编程模式。

摘要德国斯派克手持式矿石分析仪 SPECTRO xSORT*的PPM级精度检测 几秒钟的原位检测即可提供快速的结果。稍稍延长检测时间甚至可以对砷，镉，铜，铅，汞及您所选择的污染进行PPM级精确的分析。对于定性或简单的定量筛选应用而言SPECTRO xSORT光谱仪是较理想...

摘要光泵浦太赫兹探测系统 OPTP ，时间分辨系统 OPTP是一门很有应用前景的超快载流子研究方法。有光子能量低的特性，对半导体中载流子的变化和分布将会十分敏感， 因此很适合被用做探测光来研究半导体中超快载流子的动力学过程。当激光激发半导体材料时，材料中被激发的电子和空穴...

摘要 vescent D2-210光谱模块，森泉光电D2-210是Vescent推出的di二代光谱模块，使得原子跃迁相比以往变得更加容易、更加牢靠。D2-210经过全新设计，可在多个激光锁定环境中实现性能*优化，使原子吸收参考频率变得简单。

摘要 TOPCON拓普康近红外分光辐射计SR-NIR￭ 能测定从FPD到微弱发光的近红外领域。￭ 高精度测定近红外领域（600～1030nm）的分光分布。￭ 和本公司其他型号的分光辐射度计一并使用时，能够测定可见光～近红外光（380～1030nm）的分光分布。

摘要 日本TOPCON拓普康分光辐射计SR-3AR在*获得客户好评的SR-3A/SR-3A-L1的基础之上加以改良，扩大了测定范围，性能更为稳定、操作性能得到飞跃提升的优质产品。

摘要TOPCON拓普康超低亮度分光辐射计SR-UL1R原有机型SR-UL1的升级版机型，其灵敏度在SR-UL1基础上再提高5倍，达到0.001 cd/㎡。本产品在继承原SR-UL1优良性能的基础之上，增加了USB界面以及测定角电动切换等功能，从而大大提高了产品的操作性。此...

摘要日本TOPCON拓普康超低亮度分光辐射计SR-UL2高速测定超低亮度 （0.0005 cd/m² - ）￭ 量程宽广。量程为 （0.0005 - 300,000cd/m²）￭ 无需使用辅助镜，即能够测定细微面的超低亮度。￭ 搭载同步测定功能及积分时...

摘要 SR-LEDH分光辐射计TOPCON拓普康搭载有测定条件自动化功能的FIX模式，仅需0.4秒即能完成对同类样品的测定，非常适合于必须超高速测定的出厂检验之类的产线检查作业。本产品适合于近年来需求不断扩大的LCD背光、新一代照明所使用的LED模组的产线、品质管理之用。

摘要分光辐射计SR-LEDW日本TOPCON拓普康量程极为宽广，低可测亮度低至0.0005cd/m²,可用于评价体现黑画面品质的超高对比度；可测亮度高达5,000,000cd/m²,适用于评价超高亮度级LED的光学特性，是目前行业内的*产品，同时也是T...

摘要SR-LEDW-5N分光辐射计日本TOPCON拓普康量程极为宽广，低可测亮度低至0.0005cd/m²,可用于评价体现黑画面品质的超高对比度；可测亮度高达5,000,000cd/m²,适用于评价超高亮度级LED的光学特性，是目前行业内的*产品，同时...

摘要 2维分光辐射计SR-5000/5000H拓普康TOPCON为具有点测定的分光辐射计同等性能，且可以面测定的2维分光辐射计。

摘要 EDX 60a X荧光分析仪是一种新型的采用纯物理分析方法的微机化台式仪器,用于水泥厂，能够30秒快速分析旋窑、机立窑、窑外分解旋窑厂家的白生料、全黑或半黑生料、熟料、水泥中CaO、Fe2O3的百分含量

摘要 铜合号检测仪三重射线防护系统；人性化操作界面；综合应用经验系数法、基本参数法V6.0分析软件。可*客户材料分析相关管控要求。精心设计的开放性工作曲线功能，特别适用于多材料的工厂制程控制。

摘要 0.1ml荧光定量PCR 96孔板罗氏本生（天津）健康科技有限公司供应：移液器，发光检测仪，分光光度计，分析免疫仪，全系荧光定量PCR耗材，产品包括：PCR单管、PCR八联管、PCR孔板、光学平盖。

摘要 UHSAS-G是一款纳米气溶胶分析系统，用于测量0.06-1μm范围内的气溶胶颗粒的光学散射光谱系统。该仪器可对多达100个大小的粒子进行粒子计数，分辨率可达1 nm / bin。UHSAS的高灵敏度是其成为气溶胶研究和过滤器测试的理想选择的主要原因。

摘要 HXS-3A型金属分析仪是南京华欣分析仪器制造有限公司生产的*可以满足普碳钢、高中低合金钢、不锈钢、生铸铁、球墨铸铁、合金铸铁、锰铁等材料中多元素的分析。

摘要 主要用于材料总透光率、散射透光率、平行光透光率、不同波长的光谱透过率曲线、雾度等。一体化设计，夹持样品的空间大，满足光学薄膜、玻璃、塑料、LCD面板等不同尺寸材料的测试需求，满足ASTM、GB等标准要求。详情请咨询远方光电。

摘要多通道光合有效辐射记录仪是托普云农专门为农作物生长研究而研发的测量仪器。该仪器灵敏度高，采用响应灵敏硅光探测器；光量子传感器可以随植物叶片的长势和形状排列，光合有效辐射记录仪的光量子传感器由连接件连接在万向金属软管上，光量子连接件可做360度旋转；携带方便，支架由可拆...

摘要 托普云农为广大客户提供的这套3051D便携式光合仪利用了微机强大的计算功能与存贮功能，结合红外线CO2分析仪、温湿度传感器及光照传感器，能对植物的光合、呼吸、蒸腾等指标测量和计算。目前，仪器被广泛应用在农林业、园艺、微生物、昆虫等专业行业及科学试验中。

摘要美国尼通手持式矿石分析仪 矿元素检测仪 产品简介：在质量控制、材料分类、合金鉴别、安全防范、事故调查等现场应用领域中，合号鉴别、金属成分快速分析，对实验室分析来说是一项挑战。现在，这 一切发生了根本性的变化，赛默飞世尔Niton——正在引发一场元素分析领域的革命：快速...

摘要美国尼通手持式矿石分析仪 深圳埃科瑞产品简介对于矿产勘探开采行业来说，矿业公司进行决策时很多时候要依赖于已有的矿体模型、公司经验与技术。但要充分挖掘矿山价值、制定好的开采决策，这些是远远不够的。对矿山价值的利用，有一个关键前提：即需要即时获取可靠的地球化学数据，以快速...

摘要 采用一体化暗箱设计，可实现OLED表面亮度、光谱功率分布、色坐标、色温、峰值波长、电流密度、电压效率，外量子效率、电压/电流-亮度/色度变化曲线、亮度/色度-时间变化曲线、寿命等参数的测量。详情请咨询远方光电。

摘要 X-Strata920、980-台式XRF镀层测厚仪利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。

摘要 五金镀层测厚仪COMPACT 5 是镀层测厚和材料分析的通用仪器，能提供目前高的性价比。他们是既能满足佳功能性，又能满足高的检测精度的理想工具。

摘要电镀镀层测厚仪COMPACT Eco是通用的镀层厚度测试和材料分析仪器，提供目前高的性价比。COMPACT Eco 和 MAXXI Eco 镀层测厚仪是基于X射线荧光技术，该技术已经被证实并且得到广泛应用，可以在无须样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能...

摘要通用型全自动烧录机AP700【产品描述】扩展偏振光学系统使用50W低能量的X射线管作为辐射源，用于Na-U元素的同时分析。从X射线管中发出的原始X射线通过高通量偏振光学系统进行转换，得到的*偏振且部分单色的X射线可以高灵敏地测定各种元素。这种*的偏振分析技术已成为实验...

摘要 德国Roentgenanalytik-X射线镀层测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能*,而且价钱*.,分析镀层厚度和元素成色同时进行，只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。轻巧的样品室，适合不同大小的样品，功能实用

摘要 镀层测厚仪-MAXXI 6提供高性能、快速可靠无损的镀层厚度测量及材料分析，确保产品质量的*性和高品质。1、高分辨率的硅漂移器（SDD）2、开槽式超大样品舱设计3、8个准直器4、USB接口与计算机连接

摘要台式镀层测厚仪CMI730适用于金属、油漆、粉末及涂料等行业的台式镀层测厚仪 - CMI730是一款简单易用的台式镀层测厚仪，它可适用于金属、油漆、粉末及涂料等行业，它集快速精确、价格合理、 质量可靠等优势于一体，专为全谱范围内的金属表面处理者设计。CMI730测厚仪...

摘要台式OES金属分析仪 - FOUNDRY-MASTER 系列 操作简单分析性能强大性价比*台式直读光谱仪 - FOUNDRY-MASTER 系列FOUNDRY-MASTER Compact台式直读光谱仪 FOUNDRY-MASTER Compact 是有色金属及其合金...

摘要台式XRF镀层测厚仪 X-Strata920利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。它在工业领域如电子行业、...

摘要台式XRF镀层测厚仪 X-Strata980利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。它在工业领域如电子行业、...

摘要 台式X射线荧光分析仪-Lab-X3500利用X射线荧光分析可提高您的生产率，既节省时间又降低成本Lab-X3500 的设计满足各种场合对质量控制的要求，例如在实验室、工作现场或任何需要分析的地方。

摘要X-MET7500手持式X射线元素分析仪满足各种材料快速分析，灵活性大，精度从ppm到百分比，强大的轻元素（从镁到硫）分析能力，确保镁和铝合号鉴定正确，无需昂贵笨重的氦气或真空泵附件。The X-MET7500装有日立仪器X射线光管和高分辨率硅漂移探测器（SDD），灵...

摘要 Polymax™ 塑料识别分析仪PolyMaxTM塑料识别分析仪具备强大的分析能力，使用它能够帮助您快速准确地鉴别出塑料种类，降低交易风险，提升您的业务利润。

摘要 手持式合金分析仪X-MET8000为预防潜在产品事故及其昂贵的后果，在不同生产阶段中进行质量控制和质量保证至关重要。通过手持式X射线荧光（HHXRF），您可以在进料送达时进行快速检查，并且确认从制造到送货过程中使用了合格的合金材料

摘要 手持式土壤分析仪用我们革命性的BOOST™技术和大面积硅漂移探测器。它们提供了相当于其他HHXRF型号10倍的灵敏度，为测量土壤、污泥和沉积物中关键元素（例如美国EPA 6200方法RCRA和优先元素）提供所需的低检测限制

摘要 手持式矿物分析仪X-MET8000手持式XRF （HHXRF）分析仪在采矿的多个阶段——从早期探索到现场关闭后的环境监控——提供快速、现场的地球化学分析。这*减少了对实验室分析的需求，加快了决策过程并降低了检测成本。

摘要 手持X-MET8000系列手持式X光荧光分析仪（HHXRF）的X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料（固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等）的准确化学结构分析所需的性能。X-MET方便、耐用且使用简单，可为您提供可靠的结果。

摘要 牛津Lab-X3500 台式X射线荧光分析仪台式X射线荧光分析仪Lab-X3500 利用X射线荧光分析可提高您的生产率，既节省时间又降低成本

摘要 牛津手持式 XRF合金分析仪X-MET8000系列将牛津仪器的高性能X 光管和大面积硅漂移探测器（SDD）*地耦合在一起，其速度和性能几乎可满足市场上所有的金属分析应用需求。

摘要 日立X-MET8000 Expert Geo 荧光土壤分析仪是一款 X 射线荧光分析仪 （XRF），用于在现场进行环境土壤和沉积物筛选。该仪器可快速执行大量分析并完成测试程序，有助于大幅度降低对实验室分析的需求以及相关的成本。

摘要 日立X-MET8000 Expert CG RoHS分析仪是一款手持式 X 射线荧光 （XRF） 分析仪，可实现快速、无损和可靠的合规性筛选（RoHS, CPSIA, ELV, WEEE, EN71-3, Prop 65 等）。

摘要 日立Expert GeoX-MET8000矿石分析仪是一款 X 射线荧光分析仪 （XRF），用于在采矿过程中的各个阶段地质化学分析。该仪器便于携带且易于使用，有助于大幅度降低对实验室分析的需求以及相关的成本。