其它光学测量

摘要 SuperViewW非接触式光学3D表面形貌测量系统以白光干涉技术为原理，能以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。

摘要 光学透过率测量仪（可见光）升级型号LS183 型号:XB12/LS183 库号：M321341

摘要 立式光学计 铝箔包装薄膜厚度光学测量仪 光学纸张厚度测量仪 圆柱球形线形物体厚度测量仪型号BXS10-LS本仪器通过两咱测量方式，目镜读数和投影读数，是采用量块或标准零件与试件相比较的方式测量物体外形尺寸的仪器。

摘要 激光物理光学实验器 光栅衍射物理光学实验分析仪 光学实验测量仪1、本产品利用扩展的分划板附件实现小孔、单缝和单丝的衍射。2、不同宽度和间隔双缝的干涉,泊松斑现象以及光栅衍射等各种物理光学实验。

摘要 SuperViewW光学摩擦磨损形貌轮廓测量仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器，它具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点。

摘要VX8000全自动闪测仪光学图像测量仪是使用一种新型影像测量技术的精密测量仪器，其一键测量二维平面尺寸测量，或是搭载光学非接触式测头实现高度尺寸、平面度等参数的精密快速测量。适用于要求批量测量或自动测量的应用场景，如电子PCB测量、五金零部件检测、橡胶圈尺寸测量、手机...

摘要 Novator系列国产光学影像测量仪品牌采用高精度光学成像技术和计算机数字处理技术，能够快速、准确地获取三维物体表面形态信息，并进行精密的尺寸、角度等多项测量数据的分析和处理。

摘要 SuperViewW1光学三维轮廓测量仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。数秒内可以获得平面和曲面表面上测量所有常见的粗糙度参数。也可以选择拼接功能软件升级来组合多个影像以提供大面积测量。

摘要Novator系列三坐标光学影像测量仪是一种全自动影像测量仪，采用高精度光学成像技术和计算机数字处理技术，能够快速、准确地获取三维物体表面形态信息，并进行精密的尺寸、角度等多项测量数据的分析和处理。不仅实现了对工件的形状、长宽高、等数据的体现，同时对工件的表面平整度也...

摘要Novator系列光学影像测量仪具有X、Y、Z方向高精度测量能力，重复性精度1μm；支持点激光轮廓扫描测量以及线激光3D扫描成像，进行高度方向上的轮廓测量，实现3D扫描成像和空间测量。还支持频闪照明和飞拍功能，可进行高速测量，大幅提升测量效率；具有可独立升降和可更换R...

摘要 SuperViewW1白光干涉光学测量仪以白光干涉技术为原理，能够以优于纳米级的分辨率，测试各类表面并自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数，广泛应用于光学，半导体，材料，精密机械等等领域。是一款非接触测量样品表面形貌的光学测量仪器。

摘要 数字式立式光学计 光学纸张厚度检测仪 铝箔薄膜厚度光学测量仪 钢球线形物体厚度检测仪型号BXS16-XGJ本仪器是一般是用标准器以比较法测量工作的尺寸。

摘要 数字式立式光学计 光学纸张厚度检测仪 铝箔薄膜厚度光学测量仪 钢球线形物体厚度检测仪型号BXS16-XGJ

摘要 立式光学计 铝箔包装薄膜厚度光学测量仪 光学纸张厚度测量仪 圆柱球形线形物体厚度测量仪型号BXS10-LS本仪器通过两咱测量方式，目镜读数和投影读数，是采用量块或标准零件与试件相比较的方式测量物体外形尺寸的仪器。

摘要光谱测量型微弱化学发光与 生物发光测量仪 微弱发光测试仪本型号特点是可以测量微弱发光的光谱特性。样品室有滤片抽屉，提供干涉滤光片从400nm-620nm，共十五片，波长间隔15-20nm,滤片透过曲线半宽度12nm,535nm透过率70-80%。软件进行光谱响应和滤片...

摘要测量表面形貌的新标准随着材料不断趋向平坦化、薄膜化及结构的微细化，人们开始要求比传统的普通SPM（扫描探针显微镜）、触针式粗糙度测量仪及激光显微镜等产品更高的测量精度。相比较利用光干涉原理的白光干涉扫描显微镜，纳米尺度3D光学干涉测量系统VS1800，使用更方便，测量...

摘要 相关介绍光学传递函数（opticaltransferfunction）是指以空间频率为变量，表征成像过程中调制度和横向相移的相对变化的函数

摘要 热释光探测器退火炉是对热释光探测器进行热处理的设备，用于热释光探测器使用前和照射后的热处理。使用前的热处理用于消除探测器的残余剂量，恢复探测器的初始灵敏度和发光曲线的形状；照后低温退火用于消除探测器的低温峰，缩短测量周期，多用于大批量探测器的测量。

摘要 采用全新的多视角360度结构设计，真正实现了足部的完整扫描，3—5秒内重建出足部高精度3D数据，并自动输出测评结果，一键式触控操作让店员或者客户轻松掌控！

摘要 笔记本台式显示器成品和模组光学测量系统FS-TR系列、FS-VTA系列均可以满足笔记本和台式显示器的光学特性测量。与手机屏测试不同之处在于，除了机台尺寸增加之外，在显示器测量标准和测试项目上也进行了扩展。

摘要 祼眼3D显示器和电视光学特性测量系统符合标准。

摘要 眼镜式显示器和电视光学特性测量系统符合标准。

摘要 大尺寸背光模组导光板扩散膜光学测量系统测试背光模组或导光板、扩散膜的亮度、色度、亮度均匀性等。可自动模拟生成整个面板的发光趋势与分布图。可支持110英寸背光模组的光学测试。分为直立式测量FS-AT系列和平躺式测量FS-G系列。

摘要 中小尺寸背模组光学测量系统 测试背光模组或导光板、扩散膜的亮度、色度、亮度均匀性等。可自动模拟生成整个面板的发光趋势与分布图。

摘要大型LCD和LCM光学测量系统价格LCD显示器光学测量系统是我们灵活的光学性能测试解决方案，可扩展您的显示测量的需要。无论你是需要测试工程开发用的手机显示模块、背光模组、显示应用测试、还是生产上的QC/QA测量，我们的光学测量系统都能为你提供解决方案。所有DM系列系统...

摘要 中型LCD和LCM光学测量系统价格LCD 光学测量系统是我们灵活的光学性能测试解决方案，可扩展您的显示测量的需要。无论你是需要测试工程开发用的手机显示模块、背光模组、显示应用测试、还是生产上的QC/QA测量，我们的光学测量系统都能为你提供解决方案。

摘要 小型LCD和LCM光学测量系统价格LCD光学测量系统是我们灵活的光学性能测试解决方案，可扩展您的显示测量的需要。无论你是需要测试工程开发用的手机显示模块、背光模组、显示应用测试、还是生产上的QC/QA测量，我们的光学测量系统都能为你提供解决方案。

摘要中大型直立式BLU光学测量系统价格中大型直立式BLU光学测量系统，搭载亮度计主要进行背光模组亮度和色彩均匀性测量。其目的是为LCD、PDP、OLED和LED显示屏，以及LED、CCFL背光的研发，提供准确的光学性能测量数据；主要用于实验室、工程研发以及QA/QC等相关...

摘要中大型平躺式BLU光学测量系统价格中大型平躺式BLU光学测量系统，搭载亮度计主要进行背光模组亮度和色彩均匀性测量。其目的是为LCD、PDP、OLED和LED显示屏，以及LED、CCFL背光的研发，提供准确的光学性能测量数据；主要用于实验室、工程研发以及QA/QC等相关...

摘要 小型BLU光学测量系统价格小型LCD＆BLU光学测量系统，搭载亮度计主要进行背光模组亮度和色彩均匀性测量。其目的是为LCD、PDP、OLED和LED显示屏，以及LED、CCFL背光的研发，提供准确的光学性能测量数据；主要用于实验室、工程研发以及QA/QC等相关部门。

摘要 在不同的行业,都有对透光率测试的需求.需要测试透光率的产品形态各异,对于测试仪器的选择也是各不相同.透过率测试仪厂家林上科技教你如何选择合适的光学透过率测试仪.

摘要 MTL500是意大利VICI公司推出的集光、机、电子和计算机为一体的非接触精密测量系统，专门为回转体轴类零件的检测提供全面的测量方案。从直径0.3mm到60mm, 长度为500mm范围内的回转体轴类零件的检测均可轻松完成！

摘要 MTL500是意大利VICI公司推出的集光、机、电子和计算机为一体的非接触精密测量系统，专门为回转体轴类零件的检测提供全面的测量方案。从直径0.3mm到60mm, 长度为500mm范围内的回转体轴类零件的检测均可轻松完成！

摘要 MTL500是意大利VICI公司推出的集光、机、电子和计算机为一体的非接触精密测量系统，专门为回转体轴类零件的检测提供全面的测量方案。从直径0.3mm到60mm, 长度为500mm范围内的回转体轴类零件的检测均可轻松完成！

摘要 MTL500是意大利VICI公司推出的集光、机、电子和计算机为一体的非接触精密测量系统，专门为回转体轴类零件的检测提供全面的测量方案。从直径0.3mm到60mm, 长度为500mm范围内的回转体轴类零件的检测均可轻松完成！

摘要苏州马路科技提供高精度3D检测仪 ATOS Triple Scan 三维扫描仪价格，ATOS Triple Scan 測量系統采用的是 GOM 公司专门研发的測量和投影技术。德国GOM高精度3D光学量测仪ATOS Triple Scan三维扫描仪价格，提高了測量复杂...

摘要德国GOM中小型工件3D光学量测仪 ATOS cor如今，由于零部件形狀和功能的复杂程度日益增加，对小型零部件进行扫描、分析以及检测的重要性也不段提高。为此，专门针对诸如陶瓷型芯、铸型和塑料件等小中型零部件的计量，GOM 公司研发并推出了 ATOS Core 系統。这...

摘要 HCParalMAT型 电子式光学平行差测量仪采用光学自准直仪原理及高精度数字图像处理技术完成对光学平晶、光学窗口或光楔的平行差测量，测量软件可同时对两个正交方向的平行差或zui大值进行测量，提供±1.0角秒的测量精度。

摘要 DM-205/DM-210背光模组光学自动测量系统DM-205/210光学自动测量系统简介DM-205/210光学自动测量系统是用于10英寸（DM-205）/20英寸（DM-210）以下的背光模组、导光板、手机屏、平板显示器，OLED显示屏等的光学特性测量的系统。

摘要DM-510平面显示器光学特性测量系统 选配型封闭式DM-510平面显示器光学特性测量系统简介DM-510光学特性测量系统是用于14英寸以下的LCM模组、手机屏、平板显示器，OLED显示屏等的光学特性测量的系统，符合VESA FPDM2.0、TCO06、ISO924...

摘要DM-510平面显示器光学特性测量系统DM-510平面显示器光学特性测量系统简介DM-510光学特性测量系统是用于14英寸以下的LCM模组、手机屏、平板显示器，OLED显示屏等的光学特性测量的系统，符合VESA FPDM2.0、TCO06、ISO9241、SJ/T-...

摘要 台式光学透过率测量仪LS108H专业用于手机镜片，玻璃，镀膜材料，有机材料，涂料等透光物质的光学透过率测试。

摘要 光学透过率测量仪专业用于玻璃，镀膜材料，有机材料，涂料，太阳膜等透光物质的光学透过率测试。适用于单层玻璃，夹层玻璃（中空玻璃），贴膜玻璃，PMMA材料，ＰＣ材料等的光学性能测试。

摘要LS183光学透过率测量仪测试原理是采用紫外光源，红外光源和可见光源照射被测透明物质，感应器分别探测三种光源的入射光强和透过被测透明物质后的光强，透过光强与入射光强的比值即为透过率，用百分数表示。 LS183专业用于玻璃，镀膜材料，有机材料，涂料，太阳膜等透光物...

摘要 LS183光学透过率测量仪测试原理是采用紫外光源，红外光源和可见光源照射被测透明物质，感应器分别探测三种光源的入射光强和透过被测透明物质后的光强，透过光强与入射光强的比值即为透过率，用百分数表示。