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技术文章

千分台式硅片测厚仪

阅读:46发布时间:2017-10-20

 

千分台式硅片测厚仪

 

名称:

分 度 值:

0.001mm

测量范围与准确度:

0mm~1mm ≤0.005mm

主要用途:

用机械测量法测定硬质材料厚度

执行标准:

根据客户要求定做

 

 

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