真空衰减法微泄漏无损密封测试仪依据《ASTM F2338-2013 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 标准研发。 专业适用于各种空的/预充式注射器、水针及粉针瓶（玻璃/塑料）、灌装压盖瓶、其他硬质包装容器、电器元件等试样的 无损正、负压的微泄漏测试。本产品采用先进的设计和严谨、科学的计算方法保证了其快速测试和高准确度及高稳定 性。亦可满足用户的非标准（软件或测试夹具）定制。
真空衰减法作为无损定量检漏技术的代表，相比传统检漏方法如染色法、微生物侵入法优势明显；相比其他的无损检漏技术如激光法，适用范围广，符合标准多。 MLT-V100微泄露无损密封仪具有真空衰减法的最高检漏精度≤1um，不仅适用于高、低真空度及常压的包装，也适用于固体、液体填充的包装，非常适合于制药行业的客户使用。
与行业里长用的的检测方法对比：
染色法：Ø 破坏性测试 Ø 受多方面因素影响 Ø 可能会出现假阳性结果
微生物侵入法：Ø 破坏性测试 Ø 泄漏通道为曲折路径时漏检率高 Ø 测试时间长，测试过程繁琐
真空衰减法:Ø 无损测试Ø 定量检测Ø 测试时间短Ø 可以检测高真空度、低真空度和常压的包装
Ø 可以检测液体部分的完整性 Ø 可以直接检测出泄漏率和漏孔大小
Ø 同时符合美国ASTM标准和FDA要求Ø 封口前泄漏封口后完好的包装可以检出
请输入账号
请输入密码
请输验证码
以上信息由企业自行提供，信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，仪表网对此不承担任何保证责任。
温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
