产品介绍：
平坦样品中的延迟度和方位角（快速轴方向）的测量
在<15 s内测量直径20mm的视场
包括三个用于直径0.5英寸，直径1英寸和2英寸x 2英寸光学元件的样品架
LCC7201双折射成像系统用于学术研究、医疗诊断、工业制造和产品质量保证，可以测量晶体和液晶设备等平整的平面样品的相位延迟和方位角，非常适合检测由应力引起的双折射特性。由于该系统基于液晶器件，其内部没有相对机械运动，从而在运行过程中非常稳定，毫无振动干扰。LCC7201工作的波长为633 nm，提供直径20 mm的视场。该系统所测相位延迟范围为半波长（max.316 nm），方位角范围为±90°。此外，还可以定制波长范围从405 nm到810 nm的工作波长。
参数：
光源波长：633 nm
延迟测量范围
标准延迟范围：0至316 nm
低延迟范围：0至100 nm
方位角测量范围：±90°
延迟测量
精度标准延迟范围：<±10 nm
低延迟范围：<±1 nm
方位角测量精度
标准延迟范围：<±3°
低延迟范围：<±1°
测量速率：<15 s
视场：直径20mm
空间分辨率：9.77μm
接口：USB 2.0和千兆以太网
相机分辨率：2048 x 2048像素
尺寸：500.0 mm（D）x 360.0 mm（W）x 672.0 mm（H）
重量：26 kg（57.3 lbs）
工作温度：0至40°C
储存温度：-15至65°C
随附的配件：笔记本电脑，样品架，双折射分辨率目标（Item R2L2S1B）