SANKO 电磁式膜厚计 SWT-NEO-F
SANKO 电磁式膜厚计SWT-NEO-F
电磁式膜厚计 SWT-NEO-F , SAMAC-F ,多功能 电磁式膜厚计 CTR-2000V ,屏幕处理用电磁式膜厚计 SP-3300D ,电磁式模拟膜厚计 Pro-S , Pro-W , SL-1220C , SL-5P , SL-200E , TL -50 , SM-Pen
产品介绍
电磁式膜厚计 SWT-NEO-F
特征
测量范围为 0 到 2.5mm 宽范围
零和标准调整允许立即测量
SAMAC-F
特征
将探针和主体结合在一起的小膜厚度表。
零和标准调整也很容易通过按钮操作设置。
大型 LCD 具有可轻松阅读的背光。
屏幕处理用电磁式膜厚计 SP-3300D
特征
屏幕过程的高性能,高精度数字膜厚度表。
探针的顶端是平坦的,可以用重量加权,使您可以将其放在测量表面并自由释放,从而产生恒压接触。对于测量各种屏幕,固定(板涂层),其他弹性涂层和未涂层 涂层的测量,还可以实现高可重现性。
用途
膜厚度 / 屏幕抵抗板厚度 / 弹性膜厚度
食物的厚度,例如海藻
电磁式模拟膜厚计 Pro-S
特征
传统的模拟仪表
测量厚度的厚度在直觉上可读。它用于许多地点,例如政府机构,测试中心和公司,用作高性能的膜厚度仪表,可用于该领域。
它比紧凑的身体
更为小型。 ( 90 %的体积)此尺寸非常适合在网站上使用。
0-5mm 宽范围
它可用于从薄膜涂料到衬里的广泛应用中。
特殊的磁极探针
CVD 磁具有高磨损电阻。
表盘盖是
防止由于意外接触而导致调整点转移的标准设备。
* 由于温度差异或使用环境,这并不能阻止仪表指南的漂移。