维修 瑞士TESA测高仪
TESA Hite 400/700测高仪是集TESA25年研发经验推出的性价比的一款,它必定成为车间的。TESA Hite400/700适合于如内外长度直径, 阶梯尺寸, 高度, 深度, 和距离的测量. 配合其他附件(如测量表头),还可进行直线度和垂直度的测量.TESA Hite400/700和被替代TESA Hite PlusD350/600 相比具有更大的测量范围,更高的精度,电子装置具有IP65的防护等级可以防止液体和灰尘的侵入,机器本身内置气浮,使得机器移动更加方便快捷,避免测量基准的磨损,延长测高仪的使用寿命。控制面板固定在机身上。表面镀镍的铸铁底座同时铸有三个支承,保证了仪器的高度稳定性. 外罩内的立柱配有导轨系统并和底座垂直. 测头在此导轨上移动并由TESA技术的位移传感器记录其位置. · 技术指标
维修 瑞士TESA测高仪
型号规格 |
TESA Hite |
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400 |
700 |
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测量范围 |
mm |
415 |
715 |
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应用范围配标准附件 配订货号的测头座 配订货号S的测头座 |
mm |
570 625 795 |
870 925 1095 |
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允许误差 |
(2.5+4L)μm,(L单位为米/L in m) |
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重复性(带标准附件) |
±2s≤2μm |
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运动速度 |
500 mm/s |
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测量力(声音信号) |
1.5±0.5N |
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电源 |
6V 可充电电池 |
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一次充电工作时间 |
60h |
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微调装置 |
√ |
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测头锁定 |
√ |
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机械垂直度(μm) |
<10 |
<15 |
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主机重量(kg) |
27 |
32 |
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2) 主要测量功能
描述 |
在同一个方向上进行长度测量(测量模式1), 无须考虑测头直径 |
在上下方向上进行长度测量(测量模式2), 要考虑测头直径 |
<连续性>显示测量(测量模式3) |
在测量模式2状态下显示出上两次触测值的差值 |
在测量模式1和模式2状态下显示出上两次显示值的差值 |
在测量模式2状态下, 通过两次触测来建立基准点,以获得各种长度和位置坐标 |
在测量模式2状态下, 通过一次触测来建立基准点,以获得各种长度测量 |
在测量模式1, 2和3状态下建立新的基准点 |
在测量模式1, 2和3状态下, 予置数输入 |
自动将测量数据传输给外设 |
确认并记录数据在仪器存储器中 |
增位测量, 表示找到点(测内外直径时使用) |
减位测量, 表示找到点(测内外直径时使用) |
每按一下,即将读数传给外设 |
公英制单位转换 |
取消上一次功能或测量选择 |
仪器开关键, 当面板后部的设置键3置为ON时,仪器在停止使用达16分钟时会自动 维修 美国 NanoMap-PS 台阶仪 维修 美国 NanoMap-PS 台阶仪 【探针接触式轮廓仪】台阶仪,全新美国进口台阶仪 性价比高 NanoMap-PS是一款专门为nm级薄膜测量研发的无需防震台即可测量的接触式台阶仪 AFM同款位移传感器,超高精度 压电陶瓷驱动扫描,无内源振动 自集成主动反馈式防震系统 真正无需额外辅助防震系统,实现高重复性纳米测量 纳米量级科学研究的*产品 NanoMap-PS 台阶仪 可以应用在半导体,光伏/太阳能,光电子,化合物半导体,OLED,生物医药,PCB封装等领域的薄膜厚度,台阶高度,粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),划痕深度,磨损深度,薄膜应力(曲定量率半径法)等定量测量方面。其高精度,高重复性,自动探索样品表面,自动测量深受广大客户欢迎。
测量表面可以覆盖多种材料表面:金属材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等,对于植物表面,生物材料,聚合物表面,光刻胶等“柔软表面”也可测量无须担心划伤或破坏。设备传感器精度高,稳定性好。热噪声是同类产品的。垂直分辨率可达0.1nm。可测表面,包括透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料,金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等;
垂直分辨率 0.1nm
垂直量程 1000um
平台范围 直径150毫米(可选200毫米或更大)
金刚石探针 0.5um到25um可选 |