Loop 测试
自动搜寻 IC 编号功能
开机自我侦测诊断功能
过载保护功能
可量测之 IC 种类超过 1800 种
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
*大可测 Pin 数 : 28 Pin
规 格
|
|
测试范围
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54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
|
4000 及 4500 系列 CMOS
|
|
55 及 75 系列 TTL
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量测种类
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约 1800 种
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测试电压
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5V DC
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测试时间
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高测试速度,平均 0.8 秒可完成一个 IC
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使用电源
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交流 110V/220V +10%, 50/60Hz
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附件
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电源线 x 1, 操作手册 x 1
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尺寸及重量
|
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm, 约 1.5 公斤
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机 种
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主要功能或用途
|
GUT - 6000A
|
数位IC测试器
|
GUT - 6600
|
掌上型数位IC测试器
|
GUT - 6001
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类比IC测试器
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Loop 测试
自动搜寻 IC 编号功能
开机自我侦测诊断功能
过载保护功能
可量测之 IC 种类超过 1800 种
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
*大可测 Pin 数 : 28 Pin
规 格
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测试范围
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54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
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4000 及 4500 系列 CMOS
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55 及 75 系列 TTL
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量测种类
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约 1800 种
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测试电压
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5V DC
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测试时间
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高测试速度,平均 0.8 秒可完成一个 IC
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使用电源
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交流 110V/220V +10%, 50/60Hz
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附件
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电源线 x 1, 操作手册 x 1
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尺寸及重量
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335(宽) x 105(高) x 300(长) mm, 约 1.5 公斤
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机 种
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主要功能或用途
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GUT - 6000A
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数位IC测试器
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GUT - 6600
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掌上型数位IC测试器
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GUT - 6001
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类比IC测试器
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