CS系列分光辐射度计 特性
- 极低的杂散光
- 高灵敏度
采用HAMAMATSU科研级高灵敏度阵列探测器，背照式CCD传感器，具有内部TE致冷、BINNING等优良特性。
多种型号选择满足你不同的应用需求：
工业级采用CS-1000光谱仪，该系统价格经济，通过一系列可以互换的光测量附件即可轻松实现定制化，可溯源的光谱标准灯可以在380-780纳米的范围内方便的进行内部系统校准和验证工作。
实验级采用CS-4000光谱仪，具有强大的电子系统:带有自动清零功能的16位A/D转换器(增强的电子暗电流校正);采用EEPROM存储校正系数,方便操作;电子快门可使积分时间短达到3.8毫秒--有效地避免探测器饱和.而且CS-4000的信噪比可以达到300:1,光学分辨率(FWHM)为0.03-8.4nm(依赖于选用的光栅和入射狭缝)。
科研级采用CS-6500光谱仪，采用二维像素阵列探测器。像素列的叠加使得信噪比大大提升（1000：1），外围电路将信号数字化添加使得探测器的信号处理速度与其他线性CCD相比更为快速。TE制冷型探测器（低至-15 °C）具有低噪音、低暗信号的特点，低亮度级别测试、长积分时间从8毫秒到15分钟（类似于照相机的快门速度）得以实现。
CS系列分光辐射度计 规格
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型号 |
CS-1000 |
CS-4000 |
CS-6500 |
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探测器范围 |
350-800纳米 |
350-1050纳米 |
350-1100纳米 |
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传感器 |
CMOS传感器 |
东芝TCD1304AP线性CCD阵列 |
热电制冷CCD（薄型背照式） |
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像素 |
1024像素 |
3648像素 |
1044×64像素 |
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波长范围 |
350-800纳米 |
350-1050纳米 |
350-1100纳米 |
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信噪比 |
150：1 |
300：1全光谱 |
1000:1全光谱 |
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A/D分辨率 |
14位 |
16位 |
16位 |
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积分时间 |
3.8毫秒-10秒 |
3.8毫秒-10秒 |
8毫秒-15分钟 |
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杂散光 |
<0.05% |
<0.05% |
<0.05% |
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校正线性度 |
>99.8% |
>99.8% |
>99.8% |
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色温范围 |
1500-35000K |
1500-35000k |
1500-35000K |
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色度精度 |
±0.0003（标准A光源） |
±0.0003(标准A光源) |
±0.0003(标准A光源) |
*亮度和色度的测量基于雷云光电条件下(使用标准LCD显示屏(6500K, 9300K))
*规格参数与外观有可能在没有预先通知的情况下予以变更，恕不另行通知。
